●   什么是功能测试

            ●   功能测试在测试中的位置，功能

            ●   功能测试自低端到高端的实现方法

         功能测试（FT：Functional Test或FCT：Functional Circuit Test）指的是对测试目标板（UUT：Unit Under Test）的提供模拟的运行环境，使UUT工作于设计状态，从而获取输出，进行验证UUT的功能状态的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。

         功能测试作为PCBA（Printed Cirruit Board Assembly）的一种测试手段，在生产测试工序中，位于ICT，飞针，AOI，或X-Ray测试后，在系统联机测试前。FT是检测UUT是否良好的最直观的手段。与ICT，飞针，AOI，X-Ray不同，这些测试方法都是检测元器件是否良好，焊接是否良好，由于测试覆盖率，器件功能等问题，UUT通过以上的测试流程，但无法保证能正常工作。特别是一些需要工厂调试，校准等过程参与的工序，FT的作用是无可替代的。FT的优点在于直观，它是直接检测UUT是否正常工作的唯一手段，而且可信度高，测试覆盖率高，缺点通用性差。

         功能测试方法众多，各生产厂家根据产品的投产量，系列化程度，生命周期的不同会采用不同层次的测试手段。从价格和功能的复杂度来说，从低端到高端的测试设备可以分为以下的几种形式：

         手动测试设备：非自动化测试，所有激励，开关，测量都通过操作员手动完成，由操作员根据仪表（通常是万用表）的读数判断UUT是否良好。手动测试台的唯一优点是价格便宜，缺点是测试速度慢，效率低，精度不高，误判率高，适用于“委，试，小”类的产品。手动测试台通常以手动功能夹具的形式出现。

         自动测试设备：自动测试设备通常是以微处理器为核心，控制信号发生单元，多路继电器开关，支持ADC测量。通过对UUT环境变量的完全控制和输出的自动获取，完成UUT的自动测试。自动测试设备通常安装在功能测试夹具内。自动测试设备的优点是测试速度快，操作简便。缺点是无通用性，一般测量精度不高。适用于单一产品或功能和规格非常相近的系列产品。自动测试台通常要定制开发。

         通用功能测试仪（基于微处理器或嵌入式MCU，我们也称为miniATE）：通用功能测试仪是自动测试设备的通用化扩展，一般以单片机为核心，控制开关矩阵，支持ADC采样，并实现部分DAQ功能，支持交直流电压、电流，电阻，电容，二极管的测量，部分仪器也支持频率幅度可调节的方波、正弦波、三角波的发生，提供可编程的恒压源和恒流源。我公司的miniATE的的优点是测试速度快，通用性好，体积小，安装方便，价格相对于其它通用测试手段低。缺点是需要简单的编程控制。我公司可以提供这类的服务。

         通用功能测试系统（基于PC，利用支持GPIB、USB、PCI和串口等接口的仪器，组装成专用测试平台）：这种系统是目前生产厂家普遍采用的功能测试系统。该系统以PC或IPC为核心，配置可编程万用表，DAQ卡，GPIB卡，可编程电源，可编程电子负载，示波器等仪器，并用Labview、VB或VC等开发工具编制一套测试软件。该系统的优点是测试速度快，通用性好，模块化好，缺点是一般价格高，特别是在加工业利润很低的情况下，这个矛盾尤为突出。

         通用功能测试系统（基于VXI、PXI、LXI、PCI Express等总线平台）： 此类测试系统是目前测试系统的高端产品，通常用于测试附加值比较高的通讯类产品或应用于军工领域。上述平台通常采用背板插卡结构，EuroCard 标准卡，测试速度快，精度高，稳定性好。但仅Agilent、NI等公司能提供相关平台和组件，价格昂贵。

         专用功能测试仪：该类测试仪通常仅测试UUT的某部分功能或者是针对某一类的信号进行测试，比如音频测试仪，蓝牙测试仪，ADSL协议测试仪等。